全国高端经纪人,100元不限次数上门电话,个人接单上门服务,可约可空降一一平台

当前位置:首页 >科技动态> 扫描电子显微镜—观察微观世界的“放大镜”

扫描电子显微镜—观察微观世界的“放大镜”

来源:科技发展处    发布时间: 2020-08-11


   扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。它是用细聚焦的高能电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生二次电子(SE)、背散射电子(BSE)等信号,这些信号来自样品的特定发射区域,并随表面形貌的不同而变化。通过对这些物理信号收集、放大、再成像可以获得样品表面或断面的形貌信息。现在SEM都能跟能谱(EDS)联用,对样品成分进行定性和半定量分析。SEM是显微结构分析的主要仪器,已经广泛应用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。
   膜分离材料的微观结构决定了其宏观性能,对膜表面微观形貌的分析是高性能膜材料研发的基础。膜技术与应用研究室近期购置了一台配有EDS的台式SEM(图1),最高可放大到30万倍。该SEM配备SE和BSE两种探头,可分别针对材料的立体形貌、元素二维分布进行观测。图2是该设备拍摄的RO膜表面形貌及元素成分。另外,针对非导电样品,该设备可以在低真空度下进行拍摄。


【字号:      】  打印】 【仅内容打印】 【关闭】  【下载

行唐县b8k502| 疏勒县zdm222| 射阳县8fw116| 新竹县ks8734| 星子县tls127| 五原县c8g693| 林口县ygu872| 永康市8dl999| 浦城县7gq916| 长垣县cg7353| 梁山县tzm454| 榆社县x7p555| 广东省oel939| 额尔古纳市7nz573| 平阳县qb7957| 铜鼓县uct835| 牡丹江市q7t230